Näytteen valmistuksen eri työvaiheet
Näytteen valmistuksen eri työvaiheet vaikuttavat materiaalitutkimuksessa olennaisesti
näytteiden laatuun. Näytteen laatu puolestaan vaikuttaa elektronimikroskopiassa (SEM, TEM)
ratkaisevasti kuvan laatuun ja tutkimustuloksiin. Siksi on tärkeää, että jokainen työvaihe
tehdään oikein ja asianmukaisilla laitteilla. Leican kokonaisratkaisuilla saat saumattoman ja
nopean työnkulun näytteillesi.
Leica EM TXP
Leica EM TXP on yhdistelmänäytteenvalmistuslaite materiaalinäytteiden esikäsittelyyn ja valmisteluun ennen jatkokäsittelyä ja SEM, TEM tai valomikroskopian tekniikoin tehtävää tutkimusta. Laitteella voidaan jyrsiä, sahata, hioa ja kiillottaa materiaalinäytteitä. Kaikki näytteen esikäsittelyn työvaiheet voidaan EM TXP:llä tehdä näytettä siirtämättä ja samalla laitteella.
Integroitu stereomikroskooppi mahdollistaa työstettävän kohteen reaaliaikaisen tarkastelun ja kuvaamisen eri kulmista. Näin mahdollistetaan myös hyvin pienien kohteiden paikannus ja valmistelu. Näytteen kääntövarrella näytettä voidaan tarkkailla suoraan 0-60 asteen kulmissa tai 90 asteen kulmassa esimerkiksi etäisyyden määritystä varten.
EM TXP on ainutlaatuinen järjestelmä, joka on kehitetty nopeuttamaan ja helpottamaan näytteiden valmistusta sellaisenaan tai ennen jatkotekniikkaa esimerkiksi ultramikrotomilla, SEM:lla tai EM TIC 3X Ion beam milling -laitteistolla.
Tutustu Leican valikoimaan ja kysy meiltä lisää!
